產(chǎn)品簡(jiǎn)介

uv紫外可見分光光度計(jì)價(jià)格儀器功能1.光度測(cè)量：固定波長下檢測(cè)樣品的吸光度和透過率2.定量測(cè)量：C模式下單點(diǎn)法測(cè)試 F模式下可輸入C=KA+B準(zhǔn)確測(cè)量濃度 ：

 uv紫外可見分光光度計(jì)價(jià)格波長范圍：190-1100nm      

光譜帶寬：4nm
 波長準(zhǔn)確度：±1nm        

波長重復(fù)性：0. 2nm        

光度準(zhǔn)確度：±0.5%T
 光度重復(fù)性：0.2%T        

雜散光：0.2%T（220/340nm處）
 穩(wěn)定性：±0.001A/h(500nm處)            

  顯示方式：液晶顯示器
 zui小分辨率0.1nm

 uv紫外可見分光光度計(jì)價(jià)格基本原理是利用在光的照射下待測(cè)樣品內(nèi) 部的電子躍遷，電子躍遷類型有： 　（1）σ→σ* 躍遷 指處于成鍵軌道上的 σ 電子吸收光子后被激發(fā)躍遷到 σ* 反鍵軌道 　（2）n→σ* 躍遷 指分子中處于非鍵軌道上的 n 電子吸收能量后向 σ*反鍵軌 道的躍遷 　（3）π→π* 躍遷 指不飽和鍵中的 π 電子吸收光波能量后躍遷到 π*反鍵軌 道。 　（4）n→π* 躍遷 指分子中處于非鍵軌道上的 n 電子吸收能量后向 π*反鍵軌 道的躍遷 　。 電子躍遷類型不同，實(shí)際躍遷需要的能量不同： σ→σ* ～150nm n→σ* ～200nm π→π* ～200nm n→π* ～300nm 　吸收能量的次序?yàn)椋?sigma;→σ*>n→σ*≥π→π*>n→π* 　特殊的結(jié)構(gòu)就會(huì)有特殊的電子躍遷，對(duì)應(yīng)著不同的能量（波長），反反映在紫 外可見吸收光譜圖上就有一定位置一定強(qiáng)度的吸收峰，根據(jù)吸收峰的位置和強(qiáng)度就可 以推知待測(cè)樣品的結(jié)構(gòu)信息。